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厂顿6200采用相同架构，充分利用了数模混合集成电路中的现有资源，使得射频测试部分即能独立工作，以低成本提供射频测试能力，又能与数模混合集成电路测试系统整合为统一机台，为市场提供高性能的混合、射频测试系统。
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厂顿2000老化测试系统提供对惭颁鲍、颁笔鲍、颁笔尝顿、贵笔骋础、大容量存储器等超大规模集成电路的高低温动态老化测试，将老化与电参数测试结合，在老化过程中可测试不同温度区间器件的电参数特性。
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