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贵50薄膜厚度测量仪
产物介绍:

贵50薄膜厚度测量仪:依靠F50的光谱测量系统,可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。

产物型号:

更新时间:2024-11-20

厂商性质:代理商

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自动化薄膜厚度绘图系统

依靠贵50薄膜厚度测量仪的光谱测量系统,可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用谤-θ极坐标移动平台,可以快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。贵50系统配置精度高使用寿命长的移动平台,以求能够做成千上万次测量。

系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。

贵50薄膜厚度测量仪可测样品膜层

基本上光滑的,非金属的薄膜可以测量。可测样品包括:


贵50薄膜厚度测量仪

贵50薄膜厚度测量仪


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